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2023-11-23
EddyCus®map2530系列EddyCus®map2530系列在非接觸模式下自動(dòng)測量大型樣品的薄層電阻，最大可達(dá)300x300mm2（12x12英寸）。在手動(dòng)定位樣品后，設(shè)備會(huì)自動(dòng)測量并顯示整個(gè)樣品區(qū)域的薄層電阻的精確圖譜。測量設(shè)置允許輕松靈活地選擇低于1分鐘的快速測量時(shí)間或超過10萬個(gè)測量點(diǎn)的高空間測量分辨率。特征技術(shù)：非接觸式渦流通過多點(diǎn)測繪成像定位區(qū)域：300mmx300mm采樣區(qū)域：300x300mm推薦的樣品尺寸。1英寸到12英寸或25到300...2023-11-23
EddyCus®map2530系列非接觸片狀電阻、金屬層厚度、電阻率和電各向異性繪圖裝置EddyCus®map2530系列在非接觸模式下自動(dòng)測量大型樣品的薄層電阻，最大可達(dá)300x300mm2（12x12英寸）。在手動(dòng)定位樣品后，設(shè)備會(huì)自動(dòng)測量并顯示整個(gè)樣品區(qū)域的薄層電阻的精確圖譜。測量設(shè)置允許輕松靈活地選擇低于1分鐘的快速測量時(shí)間或超過10萬個(gè)測量點(diǎn)的高空間測量分辨率。特征技術(shù)：非接觸式渦流通過多點(diǎn)測繪成像定位區(qū)域：300mmx300mm采樣區(qū)域：300x3...2023-11-21
EddyCusTFlab2020SR–非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測試儀EddyCusTFlab2020SR是一種非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測量系統(tǒng)。該設(shè)備包含一個(gè)渦流傳感器組，可將微弱電流感應(yīng)到導(dǎo)電薄膜和材料中。樣本中的感應(yīng)電流會(huì)產(chǎn)生與測量對(duì)象的薄層電阻相關(guān)的電磁場。該技術(shù)獨(dú)立于表面特征或形態(tài)。此外，它不需要任何類型的充分樣品接觸或準(zhǔn)備，例如從2點(diǎn)或4點(diǎn)探針測試（2PP、4PP）或霍爾效應(yīng)或范德堡測量中得知。它既不需要設(shè)置測試結(jié)構(gòu)，也不受表面粗糙度或非導(dǎo)電封裝或鈍化層的影響。此外，測量不...2023-11-21
L50(300)A-IPL-V1探頭7Z02780L50(300)A-IPL是一種熱電堆激光測量探頭，用于測量來自IPL皮膚病源的脈沖?？讖綖?5mm，并有一個(gè)玻璃窗，可經(jīng)由空氣或利用凝膠進(jìn)行測量?？蓽y量120mJ至1000J的能量。配備高損傷閾值LP2涂層，并可覆蓋0.5至1.3μm的光譜范圍。NOVAII表頭7Z01550兼容所有標(biāo)準(zhǔn)Ophir熱電堆、BeamTrack、熱釋電和光電二極管傳感器。大尺寸、高清LCD顯示屏。具有數(shù)字和模擬表針兩種顯示。能夠通過USB和RS2...2023-11-20
PD300RM-8W7Z02480PD300RM-8WLED和激光輻射計(jì)代替只校準(zhǔn)單波長（254nm、365nm等）的傳統(tǒng)輻射計(jì)，提供廣泛光譜范圍的標(biāo)定，用戶可通過輸入標(biāo)定范圍內(nèi)的任何波長進(jìn)行使用。PD300RM是一款通用型圓筒形幾何形狀光電二極管輻照度和劑量傳感器，具有8mm孔徑和余弦校正散射片。其光譜范圍為350-850nm，輻照度測量范圍為0.2μW/cm2-8W/cm2。該傳感器配備一根1.5米電纜，用于連接至一個(gè)主機(jī)儀表或PC接口。直徑8mm的孔徑和余弦校正擴(kuò)散器3...2023-11-17
在日常生活中，我們時(shí)常接觸到各種類型的地面材料，其中陶瓷磚因其美觀性和耐用性而受到廣泛應(yīng)用。然而，陶瓷磚的防滑性能對(duì)于使用者的安全至關(guān)重要。為了評(píng)估陶瓷磚的防滑性能，我們需要借助專業(yè)的測試儀器——陶瓷磚防滑測試儀。一、原理陶瓷磚防滑測試儀主要通過測量摩擦系數(shù)來評(píng)估陶瓷磚的防滑性能。它利用輪子在陶瓷磚表面滑行的摩擦力來測量摩擦系數(shù)。當(dāng)輪子在陶瓷磚表面滑行時(shí)，摩擦力會(huì)作用在輪子上，使其產(chǎn)生一定程度的形變。通過測量輪子的形變量，可以計(jì)算出陶瓷磚表面的摩擦系數(shù)。二、作用提供客觀數(shù)據(jù)：...2023-11-16
IEC62368-1:2023音視頻、信息技術(shù)和通信技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)方案序號(hào)名稱條款相關(guān)要求1圖20試驗(yàn)鉤4.8.5IEC62368-12球壓試驗(yàn)裝置5.4.1.10.33爬電距離測試卡5.4.24圖29抗電強(qiáng)度測試儀5.4.2.4固體絕緣抗電強(qiáng)度試驗(yàn)裝置5劃痕試驗(yàn)探針錐型，頂角40℃，jian端應(yīng)當(dāng)?shù)箞A拋光，倒圓半徑為0.25MM±0.02MM6IP3X試驗(yàn)探針附錄P.2.2防止異物進(jìn)入的安全防護(hù)附錄P防止導(dǎo)電物進(jìn)入的安全防護(hù)7IP4X試驗(yàn)探針附錄P.2.2防止異物進(jìn)...